TS600T-PM-Y 偏光显微镜冷热台冷热台广泛应用于半导体、高分子聚合物、液态晶体、冶金等各种研究领域。冷热台可以跟光学显微镜、共聚焦显微镜、激光拉曼、傅里叶红外光谱仪、X射线衍射仪等设备联用,用于材料在变温条件下的研究和表征。
简要描述: TS-PM-Y 系列冷热台使用非磁性材料设计TS系列冷热台(-196~1500℃):包括各种型号的冷台、中温热台、高温热台、温控探针台及定制方案;可使用电极探针,也可以使用定制管壳对样品进行封装
TS-PM-Y温控探针冷热台可独立控温,也可通过上位机软件控制,温度范围广,120℃/400℃/600℃/800℃/1000℃可选,可选择透射光或反射光观察 探针种类丰富,可根据用户需求进行定制 软件拓展性强,可提供LABVIEW等语言的SDK。
TS600-EM-Y 椭偏仪冷热台配合偏光显微镜使用,样品位置可XY轴移动,该型号体积小巧轻薄,结构紧凑。 配套:A2101(吸附笔)、A2102(石英片)、A2510(无痕双面胶);
TS300N-SV-Y 声速测量冷热台可以用于搭配声速测量设备,进行声速的变温测量,实现变温范围-80到200℃,同时该型号可衍生用于光谱仪积分球等光学高低温测试场合;
简要描述: TS400-R-Y 温控探针系列专门针对材料电学测试而设计的一款产品,温度范围为-196~400℃,全程温度稳定性控制0.5℃以内,采用四探针法可表征材料升温和降温阶段电阻率随温度变化的特征。