详细介绍
品牌 | 其他品牌 | 应用领域 | 化工,地矿,电子,航天,电气 |
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SEEBECK 系数测量范围 | (5-1000)uV/K | 电阻测量范围 | 1uΩ~1MΩ |
电压测量范围 | 0-5V | 器件电阻测量范围 | 0.1-100 欧姆 |
ZT 值测量范围 | 1-3 | 冷热端温差 | 20 度 |
一、应用场景
热电材料目前在半导体制冷和温差发电等领域得到广泛应用,本产品CCM-3-Y便携式泽贝壳系数测量仪可以用于一般热电材料的SEEBECK 系数常温测量,和半导体制冷片的 ZT 值和电阻值测量,是热电材料和器件研究生产的重要工具。
样品塞贝克系数
平均优值系数Z(1/K)
电阻值测量
物理教学实验
热电材料初步筛选
二、功能和原理介绍
2.1 SEEBECK 系数测试功能(端口 A)
SEEBECK 系数双端探笔,集成了冷探针和热探针。其中热探针包含铜探针、热电偶和加热圈;
测试过程中给Seebeck 热探针加热,使热探针和冷探针之间始终保持一个固定的温差 T,同时记录冷热探针之间的热电势 V,根据公式即可计算出材料的 Seebeck 系数值;
图2-1 SEEBECK 测试原理图
图2-2塞贝克测试探笔尺寸图
2.2 电阻测量功能(端口 B)
该功能通过四线法测量样品电阻值,避免了探针和样品接触电阻的影响;
并且在测试时可以选择不同的测量模式;
自动模式:测试软件自动选择测试电流,最终测试结果为多组电流和电压值数据拟合结果;
手动模式:采用设定电流值测试样品电阻值;特别针对样品的IV 曲线测试功能;测试
过程中电流自动切换方向,以减少测试误差。
同时该界面具备恒流源输出和微弱信号采集功能;具体使用方法请参照4.2 节。
2.3 半导体制冷片参数测量(端口 B)
哈曼法测试原理:给样品通一个恒定的电流值,根据帕尔帖效应热电材料会在两端吸热
和放热,并产生一个温差电压Vs。当温差和热传导达到平衡时记录此时的电压 Vo,Vo 包含器件电阻的电压 Vr 和 Vs。接着切断电流,Vr 同时消失,而 Vs 逐渐减小。记录此时刻前后电压变化曲线,使用数据分析方法找到 Vr。Vs/Vr 则代表器件的 ZT 值。
图3-1哈曼法测试原理
三、CCM-3-Y便携式泽贝壳系数测量仪参数表
性能 |
参数 |
SEEBECK测试参数 |
|
样品种类 |
块体、薄膜或者是丝状样品,长度>5mm; |
样品电阻值 |
≤10KΩ; |
SEEBECK系数测量范围 |
(5-1000)uV/K |
冷热端温差 |
20度 |
系统配件 |
双端探笔 |
电阻测量 |
|
电阻测量范围 |
1uΩ~1MΩ |
电阻测量准确性 |
≤1% |
电压测量范围 |
0-5V |
电压测量精度 |
1uV |
恒流源输出范围 |
0.1uA-200mA |
恒流源准确性 |
≤1% |
半导体制冷片参数测量 |
|
器件电阻测量范围 |
0.1-100欧姆 |
误差范围 |
5% |
重复性 |
0.3% |
ZT值测量范围 |
1-3 |
误差范围 |
3% |
重复性 |
0.4% |
系统配件 |
开尔文夹及引线 |
标准样品 |
热电器件TEC12703 |
设备整体参数 |
|
设备供电 |
24V |
电池容量 |
3000mAh |
续航时间 |
>8小时 |
机箱尺寸 |
260*200*120(高) |
设备最大功率 |
5W |
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